СЭМ-РФА

СЭМ-рентгеновский анализ История и развитие SEM-XRF SEM-XRF — это добавление рентгеновского генератора к сканирующему электронному микроскопу (SEM).   Технический прогресс в […]

СЭМ-рентгеновский анализ

  • История и развитие SEM-XRF

    • SEM-XRF — это добавление рентгеновского генератора к сканирующему электронному микроскопу (SEM).  
    • Технический прогресс в области рентгеновских трубок и оптики позволил разработать компактные микрофокусные источники рентгеновского излучения.  
    • В 1986 году Сандия и Ливерморская национальная лаборатория Лоуренса опубликовали статью о параметрах рентгеновской микрофлуоресценции.  
    • В 1988 году Cross & Wherry описали рентгеновский микрофлуоресцентный анализатор.  
    • В 1991 году Позсгаи опубликовал обзорную статью о возможностях рентгеновского микрофлуоресцентного анализа в контексте SEM.  
  • Коммерциализация и применение

    • SEM-XRF был впервые коммерциализирован компанией IXRF Systems в 2005 году.  
    • В 2013 году за ним последовала корпорация Bruker.  
    • SEM-XRF используется для количественного и качественного анализа микроэлементов и объемного анализа.  
    • Метод позволяет анализировать основные элементы и микроэлементы с низким и высоким атомными номерами.  
  • Преимущества и ограничения

    • SEM-XRF позволяет проводить измерения состава, толщины и микроструктуры материалов за несколько секунд.  
    • Метод имеет ограниченное пространственное разрешение, но позволяет получать количественную или качественную информацию о микроструктуре.  
    • Метод требует преобразования электронно-оптической колонки в просвечивающую рентгеновскую трубку или использования микрофокусирующих рентгеновских трубок.  
  • Рекомендации и внешние ссылки

    • В статье представлены рекомендации по использованию SEM-XRF и ссылки на внешние ресурсы.  
    • Приведены примеры исследований и публикаций, посвященных SEM-XRF.  

Полный текст статьи:

СЭМ-РФА

Оставьте комментарий

Прокрутить вверх