Фотонно-индуцированная электронная микроскопия ближнего поля

Электронная микроскопия ближнего поля, индуцированная фотонами Метод PINEM Основан на неупругом взаимодействии электронов и фотонов   Позволяет исследовать наноразмерные электромагнитные поля   […]

Электронная микроскопия ближнего поля, индуцированная фотонами

  • Метод PINEM

    • Основан на неупругом взаимодействии электронов и фотонов  
    • Позволяет исследовать наноразмерные электромагнитные поля  
  • Принцип работы

    • Неупругая связь между электронами и светом запрещена в вакууме  
    • Увеличение импульса фотона при отражении или рассеянии от поверхности  
    • Генерация ближних полей с широким распределением импульса  
  • Теоретическое описание

    • Сила электронно-светового взаимодействия зависит от проекции электрического поля  
    • Процесс взаимодействия приводит к когерентному перераспределению электронного волнового пакета  
  • Применение в фотонике

    • Спектральное, пространственное и импульсное распределения электронов коррелируют с ближней зоной  
    • Возможность отображения наноразмерных полей в пространстве и времени  
  • Динамическое управление

    • Метод позволяет управлять волновыми свойствами электронного пучка  
    • Когерентная модуляция амплитуды и фазы электронного пучка  

Полный текст статьи:

Фотонно-индуцированная электронная микроскопия ближнего поля

Оставьте комментарий

Прокрутить вверх