Рентгеновская спектроскопия с дисперсией по длине волны
-
Метод рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны (WDXS)
- Метод неразрушающего анализа для получения информации о материалах
- Измеряет рентгеновские лучи в малом диапазоне длин волн
- Генерирует спектр с пиками, соответствующими рентгеновским линиям
-
Теория метода
- Основан на генерации и измерении рентгеновских лучей
- Рентгеновские лучи образуются при вытеснении электрона с внутренней орбиты атома
- Разность энергий между орбиталями используется для идентификации атома
-
Рентгенологическое измерение
- Закон Брэгга: рентгеновские лучи дифрагируют на кристалле под углом «θ»
- Кристалл с известным размером решетки отклоняет пучок рентгеновских лучей
- Детектор измеряет отклоненный луч, позволяя определить элементы
-
Применение метода
- Анализ катализаторов, цемента, пищевых продуктов, металлов, минералов, нефти, пластмасс, полупроводников, древесины
-
Ограничения метода
- Анализ ограничен небольшой областью образца
- Не различает изотопы элементов
- Не измеряет валентное состояние элемента
- Линия Ka может перекрывать линию Kβ другого элемента