Миграция стресса

Стрессовая миграция Перенос напряжений в интегральных схемах Перенос напряжений — это процесс разрушения, который часто встречается при металлизации микросхем.  Пустоты […]

Стрессовая миграция

  • Перенос напряжений в интегральных схемах

    • Перенос напряжений — это процесс разрушения, который часто встречается при металлизации микросхем. 
    • Пустоты образуются из-за миграции вакансий, вызванной градиентом гидростатического напряжения. 
    • Большие пустоты могут привести к разрыву цепи и увеличению сопротивления, что негативно влияет на работу микросхемы. 
  • Стрессовая миграция

    • Стрессовая миграция также известна как SIV (stress induced voiding). 
    • Высокотемпературная обработка медных конструкций вызывает растягивающее напряжение из-за разницы в коэффициентах теплового расширения материалов. 
    • Со временем напряжение ослабевает, что приводит к образованию пустот и в конечном итоге к разрыву цепи. 
  • Рекомендации

    • Статья является заглушкой и нуждается в расширении. 
    • Читателей призывают помочь Википедии, расширив статью. 

Полный текст статьи:

Миграция стресса — Википедия

Оставьте комментарий

Прокрутить вверх