Ионизация при захвате электронов
-
Ионизация с захватом электронов
- Ионизация атома или молекулы в газовой фазе путем присоединения электрона
- Образование иона определенной формы
- Реакция требует третьего тела для сохранения энергии и импульса
-
Масс-спектрометрия с электронным захватом (EC-MS)
- Тип масс-спектрометрии, использующий ионизацию с электронным захватом
- Эффективен для электрофилов
- Использует электроны низкой энергии в газовом разряде
- Вызывает меньшую фрагментацию молекул по сравнению с электронной ионизацией
-
Образование отрицательных ионов
- Резонансный захват электронов: соединение захватывает электрон, образуя анион-радикал
- Энергия электронов около 0 эВ
- Электроны создаются в источнике электронной ионизации
-
Улавливание диссоциативного резонанса
- Соединение распадается на фрагменты, образуя анионный и радикальный фрагменты
- Энергия электронов от 0 до 15 эВ
-
Образование ионной пары
- При энергии электронов более 10 эВ образуются отрицательные ионы путем образования ионных пар
-
Калибровка масс-спектрометра
- Важна для обеспечения воспроизводимости
- Используется калибровочный состав для обеспечения правильности шкалы масс и постоянного содержания групп ионов
-
Детектор захвата электронов
- Использует радиоактивный источник для генерации электронов
- Газ в камере ионизируется частицами излучения
- Аргон и гелий смешиваются с метаном для продления времени жизни метастабильных ионов
-
Приложения
- Определение остаточных концентраций хлорированных загрязняющих веществ
- Обнаружение производных пестицидов, азотсодержащих гербицидов и фосфорсодержащих инсектицидов
- Обнаружение желчных кислот и окислительного повреждения в организме
-
Преимущества
- Чувствительный метод ионизации
- Селективная ионизация, предотвращающая образование обычных матриц
- Различение определенных изомеров
-
Ограничения
- Различные энергии в источнике ионов могут вызывать изменения в образовании отрицательных ионов
- Необходимость контроля температуры источника ионов
- Влияние давления улучшающего газа на стабильность анионов
- Анализ с использованием низкой нагрузки на образцы для GC-EC-MS