Электронная микроскопия ближнего поля, индуцированная фотонами Метод PINEM Основан на неупругом взаимодействии электронов и фотонов Позволяет исследовать наноразмерные электромагнитные поля […]
Ток, индуцированный электронным пучком Метод EBIC EBIC используется для анализа полупроводников с помощью SEM или STEM. Метод выявляет скрытые переходы
Катодолюминесценция Катодолюминесценция Оптическое и электромагнитное явление, при котором электроны вызывают излучение фотонов. Пример: генерация света электронным лучом в телевизоре. Обратное
4D сканирующая просвечивающая электронная микроскопия История и развитие 4D STEM Метод использует пиксельный электронный детектор для получения картины дифракции электронов.
Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия История и развитие STEM Первый STEM был построен в 1938 году Манфредом фон Арденне. В 1970-х
Просвечивающая электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) Метод микроскопии, при котором пучок электронов пропускается через образец для формирования изображения Изображение
