Электронная микроскопия ближнего поля, индуцированная фотонами Метод PINEM Основан на неупругом взаимодействии электронов и фотонов Позволяет исследовать наноразмерные электромагнитные поля […]
Электронная голография История электронной голографии Изобретена Деннисом Габором в 1948 году Первые попытки выполнены Хейном и Малви в 1952 году
4D сканирующая просвечивающая электронная микроскопия История и развитие 4D STEM Метод использует пиксельный электронный детектор для получения картины дифракции электронов.
Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия История и развитие STEM Первый STEM был построен в 1938 году Манфредом фон Арденне. В 1970-х
Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения Позволяет визуализировать атомную структуру образцов Используется для изучения полупроводников, металлов,
Просвечивающая электронная микроскопия с фильтром энергии Принцип просвечивающей электронной микроскопии с энергетической фильтрацией (EFTEM) Используется для формирования изображений или дифракционных
Криогенная электронная томография Описание метода cryoET Метод визуализации для реконструкции трехмерных объемов образцов с высоким разрешением (~1-4 нм) Используется для
Просвечивающая электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) Метод микроскопии, при котором пучок электронов пропускается через образец для формирования изображения Изображение
Сканирующий электронный микроскоп для окружающей среды История и развитие ESEM ESEM позволяет получать изображения влажных образцов без покрытия. Первые попытки
Сканирующий электронный микроскоп История сканирующего электронного микроскопа Макс Кнолль сделал первую фотографию с помощью электронно-лучевого сканера в 1937 году. Манфред
Низкоэнергетическая электронная микроскопия Описание LEEM LEEM используется для исследования поверхностей и тонких пленок. Электроны высокой энергии фокусируются и замедляются до
Криогенная электронная микроскопия История криогенной электронной микроскопии Метод криомикроскопии, применяемый к образцам, охлажденным до криогенных температур Разработка началась в 1970-х
