Анализ одиночных частиц
Анализ одиночных частиц Одночастичный анализ Группа методов обработки изображений для анализа ПЭМ-изображений Улучшение и расширение информации о твердых частицах Методы […]
Анализ одиночных частиц Одночастичный анализ Группа методов обработки изображений для анализа ПЭМ-изображений Улучшение и расширение информации о твердых частицах Методы […]
Leica Microsystems История и структура компании Leica Microsystems GmbH — немецкая компания по производству микроскопов. Основана в 1997 году после
Сверхбыстрая дифракция электронов Сверхбыстрая дифракция электронов Метод накачки-зонда, сочетающий оптическую спектроскопию и дифракцию электронов Дает информацию о динамических изменениях структуры
Электронный микрозонд История электронного микрозонда Разработан на основе электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии Эрнст Руска и Макс Кнолль создали прототип
Электронный микроскоп История электронных микроскопов Основой электронной оптики стали работы Герца, Вихерта, Венельта и Буша. В 1928 году Макс Кнолль
Электронный микроскоп История электронных микроскопов Основой электронной оптики стали работы Герца, Вихерта, Венельта и Буша. В 1928 году Макс Кнолль
Электронный микроскоп История электронных микроскопов Основой электронной оптики стали работы Герца, Вихерта, Венельта и Буша. В 1928 году Макс Кнолль
Промышленная компьютерная томография Основы промышленной компьютерной томографии Промышленная КТ использует рентгеновское излучение для создания трехмерных изображений компонентов. Применяется в различных
Электронный микроскоп Основы электронной микроскопии Электронная микроскопия использует пучок электронов для получения изображений объектов с высоким разрешением. Микроскопы могут быть
Рентгеновский микроскоп История и развитие рентгеновской микроскопии Рентгеновская микроскопия была изобретена в 1895 году Вильгельмом Рентгеном. В 1931 году Эрнст