Сканирующий электронный микроскоп – Arc.Ask3.Ru
Сканирующий электронный микроскоп История сканирующего электронного микроскопа Макс Кнолль сделал первую фотографию с помощью электронно-лучевого сканера в 1937 году. Манфред […]
Сканирующий электронный микроскоп История сканирующего электронного микроскопа Макс Кнолль сделал первую фотографию с помощью электронно-лучевого сканера в 1937 году. Манфред […]
Окрашивание Окрашивание в микроскопии Метод усиления контраста в образцах Используется в гистологии, цитологии и медицине Определяет биологические ткани, клеточные популяции
Ядерная спектроскопия Ядерная спектроскопия Использует свойства ядра для исследования свойств материала Информация о локальной структуре получается через испускание или поглощение
Теория ставок Теория Брунауэра–Эммета–Теллера (BET) Объясняет физическую адсорбцию молекул газа на твердой поверхности Основана на многослойной адсорбции Используется для измерения
Вращающееся эхо Спиновое эхо и его применение Спиновое эхо (эхо Хана) — перефокусировка спиновой намагниченности с помощью импульса резонансного электромагнитного
Кристаллография с использованием ядерного магнитного резонанса Метод ЯМР-кристаллографии Использует ЯМР-спектроскопию для определения структуры твердых материалов Включает квантово-химические расчеты и порошковую
Твердотельный ядерный магнитный резонанс Твердотельная ЯМР-спектроскопия Метод определения структуры на атомном уровне в твердых материалах Использует спектроскопию ядерного магнитного резонанса
Спектроскопия с преобразованием Фурье Спектроскопия с преобразованием Фурье Метод измерения спектров на основе когерентности источника излучения Применяется в оптической, инфракрасной,
Электронный парамагнитный резонанс История и основные концепции ЭПР ЭПР был открыт в 1944 году Евгением Завойским и Бребисом Блини. Метод
Ядерный магнитный резонанс Ядерный магнитный резонанс (ЯМР) ЯМР возникает при взаимодействии ядер с магнитным полем, генерируя электромагнитный сигнал. Частота сигнала
Спектроскопия Определение и история спектроскопии Спектроскопия измеряет и интерпретирует электромагнитный спектр. Исторически возникла как изучение поглощения видимого света. Современные области
Электронная микроскопия ближнего поля, индуцированная фотонами Метод PINEM Основан на неупругом взаимодействии электронов и фотонов Позволяет исследовать наноразмерные электромагнитные поля
Сфокусированный ионный пучок Сфокусированный ионный пучок (FIB) Метод используется в полупроводниковой промышленности, материаловедении и биологии Напоминает сканирующий электронный микроскоп (SEM),
Ток, индуцированный электронным пучком Метод EBIC EBIC используется для анализа полупроводников с помощью SEM или STEM. Метод выявляет скрытые переходы
Спектроскопия потерь энергии электронов Спектроскопия электронных потерь энергии (EELS) Метод электронной микроскопии, при котором электроны с узким диапазоном энергий взаимодействуют
Контрастная визуализация с использованием электронных каналов Метод ECCI Электронно-канальная контрастная визуализация (ECCI) используется для изучения дефектов в материалах. Метод основан
Просвечивающая дифракция Кикути Описание метода TKD TKD (дифракция Кикути на просвет) используется для анализа микроструктуры тонких образцов в ПЭМ. Метод
Дифракция обратного рассеяния электронов Метод EBSD Дифракция обратного рассеяния электронов (EBSD) используется для изучения кристаллографической структуры материалов. Проводится в сканирующем
Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия Описание метода EDS EDS (энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия) используется для элементного анализа и определения химических характеристик образца. Метод
Катодолюминесценция Катодолюминесценция Оптическое и электромагнитное явление, при котором электроны вызывают излучение фотонов. Пример: генерация света электронным лучом в телевизоре. Обратное
Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения Позволяет визуализировать атомную структуру образцов Используется для изучения полупроводников, металлов,