Ток, индуцированный электронным лучом — Википедия
Ток, индуцированный электронным пучком Метод EBIC EBIC используется для анализа полупроводников с помощью SEM или STEM. Метод выявляет скрытые переходы […]
Вики
Semiconductor analysis
Вики
Атомно-силовая микроскопия — Arc.Ask3.Ru
Атомно-силовая микроскопия Атомно-силовая микроскопия (АСМ) Вид сканирующей зондовой микроскопии с высоким разрешением Разрешение порядка долей нанометра Пьезоэлектрические элементы обеспечивают точное
Вики
Ионный луч — Википедия
Ионный пучок Применение ионных пучков Ионные пучки используются в производстве электроники и других отраслях промышленности. Источники ионного излучения включают двигатели
Вики
Срок службы при высоких температурах
Срок службы при высоких температурах Определение надежности Надежность — это способность компонента выполнять свои функции в течение определенного времени. Надежность