Автоматическое создание тестового шаблона

• Основы ATPG

  • ATPG (Automatic Test Pattern Generation) — это процесс генерации тестовых векторов для проверки интегральных схем. 
  • ATPG использует логические неисправности для тестирования схем, что позволяет обнаруживать ошибки и дефекты. 

• История и развитие ATPG

  • Первые методы ATPG были разработаны в 1950-х годах, но они были неэффективны и требовали много времени. 
  • В 1960-х годах были разработаны более эффективные методы, такие как алгоритм D, который стал основой для многих последующих алгоритмов. 
  • Современные методы ATPG используют комбинацию логики и временных данных для более точного тестирования схем. 

• Методы ATPG

  • Существуют различные методы ATPG, включая логическую разницу, буквальное предложение, алгоритм D, PODEM, FAN algorithm и другие. 
  • Некоторые методы основаны на логической выполнимости и используют псевдослучайные тесты. 
  • WASP — это усовершенствованный спектральный алгоритм для последовательной ATPG, который сокращает время вычислений. 

• Конференции и рекомендации

  • ATPG обсуждается на различных конференциях, включая Международную конференцию по тестированию и симпозиум по тестированию СБИС. 
  • В статье также приведены рекомендации по автоматизации электронного проектирования и использованию различных методов ATPG.