Оглавление [Скрыть]
Автоматическое создание тестового шаблона
-
Основы ATPG
- ATPG (Automatic Test Pattern Generation) – это процесс генерации тестовых векторов для проверки интегральных схем.
- ATPG использует логические неисправности для тестирования схем, что позволяет обнаруживать ошибки и дефекты.
-
История и развитие ATPG
- Первые методы ATPG были разработаны в 1950-х годах, но они были неэффективны и требовали много времени.
- В 1960-х годах были разработаны более эффективные методы, такие как алгоритм D, который стал основой для многих последующих алгоритмов.
- Современные методы ATPG используют комбинацию логики и временных данных для более точного тестирования схем.
-
Методы ATPG
- Существуют различные методы ATPG, включая логическую разницу, буквальное предложение, алгоритм D, PODEM, FAN algorithm и другие.
- Некоторые методы основаны на логической выполнимости и используют псевдослучайные тесты.
- WASP – это усовершенствованный спектральный алгоритм для последовательной ATPG, который сокращает время вычислений.
-
Конференции и рекомендации
- ATPG обсуждается на различных конференциях, включая Международную конференцию по тестированию и симпозиум по тестированию СБИС.
- В статье также приведены рекомендации по автоматизации электронного проектирования и использованию различных методов ATPG.
Полный текст статьи: