Оглавление [Скрыть]
Кристаллографический дефект
-
Основы дефектов кристаллической решетки
- Дефекты – это отклонения от идеальной структуры кристалла.
- Они могут быть точечными, линейными или объемными.
- Точечные дефекты включают вакансии, междоузлия и примеси.
- Линейные дефекты включают дислокации и дисклинации.
- Объемные дефекты включают поры, трещины и включения.
-
Классификация дефектов
- Точечные дефекты классифицируются по типу и размеру.
- Линейные дефекты классифицируются по типу дислокации.
- Объемные дефекты классифицируются по размеру и форме.
-
Примеры дефектов
- Вакансии и междоузлия являются наиболее распространенными точечными дефектами.
- Дислокации и дисклинации являются важными линейными дефектами.
- Поры, трещины и включения являются примерами объемных дефектов.
-
Методы изучения дефектов
- Экспериментальные методы включают просвечивающую электронную микроскопию и атомное зондирование.
- Спектроскопия переходных процессов используется для изучения электрических свойств дислокаций.
- Компьютерное моделирование широко применяется для изучения свойств дефектов.
-
Математические методы классификации
- Теория топологических гомотопий используется для классификации дефектов в различных системах.
-
Рекомендации
- Для дальнейшего чтения рекомендуется книга Хагена Кляйнхерта и статья Германа Шмальцрида.
Полный текст статьи: