Детекторы для просвечивающей электронной микроскопии – Википедия

Оглавление1 Детекторы для просвечивающей электронной микроскопии1.1 Традиционные методы обнаружения1.2 ПЗС-камеры1.3 КМОП-камеры1.4 Детекторы прямых электронов1.5 Детекторы для сканирования TEM (STEM)1.6 Полный […]

Детекторы для просвечивающей электронной микроскопии

  • Традиционные методы обнаружения

    • Флуоресцентный смотровой экран из ZnS или ZnS/CdS  
    • Фотопленка для записи изображений  
  • ПЗС-камеры

    • Впервые применены в 1980-х годах  
    • Используют сцинтиллятор для преобразования электронов в фотоны  
    • Оснащены охлаждающим устройством Пельтье для снижения температуры  
  • КМОП-камеры

    • Коммерчески доступны с 2006 года  
    • Менее подвержены помутнению и имеют более высокую скорость считывания  
  • Детекторы прямых электронов

    • Не используют сцинтиллятор, обеспечивают более высокий DQE  
    • Гибридный пиксельный детектор (PAD) с пикселями 150 x 150 x 500 мкм  
    • Монолитный активный пиксельный датчик (MAPS) с пикселями 6,5 x 6,5 мкм  
  • Детекторы для сканирования TEM (STEM)

    • Используются для регистрации сигнала в каждой позиции зонда  
    • Включают кольцевой детектор темного поля (ADF) и сегментированные стволовые детекторы  
    • 4D STEM использует гибридные детекторы прямых электронов pixel или MAPS для записи всей картины дифракции электронов  

Полный текст статьи:

Детекторы для просвечивающей электронной микроскопии – Википедия

Оставьте комментарий

Прокрутить вверх