Дифракция электронов сходящимся пучком
-
История и развитие CBED
- Метод был представлен в 1939 году Косселем и Мелленштедтом.
- Разработка FEG и STEM в 1970-х годах улучшила разрешающую способность.
- CBED использовался для определения симметрий и структуры кристаллов с 1985 года.
-
Приложения и параметры
- CBED позволяет получить параметры кристаллической решетки, толщину образца, распределение напряжений и дефекты.
- Полуугл сходимости луча α управляет диаметром диска CBED.
- Расфокусировка Δf позволяет видеть информацию о прямом и обратном пространстве.
-
Связанные методы
- Обычная (C) КАМЕРА: используется для получения распределения интенсивности по всей зоне Бриллюэна.
- Большой угол наклона (LA)CBED: позволяет получать диски большего диаметра.
- 4D-STEM: сканирует образец в 2D-матрице для получения 4D-данных.
- Качающийся луч (BR)-CBED: создает виртуальный сходящийся луч для чувствительных материалов.
- CB-LEED: анализирует кривые качания при одной энергии для локализованной структурной информации.
- Птихография: восстанавливает фазу исходящей электронной волны для атомарного разрешения.
-
Преимущества и недостатки
- Меньший диаметр зондирующего пучка позволяет получать информацию из малых областей.
- Сфокусированный датчик может вызвать загрязнение и локальные напряжения.
- Сходящийся луч может нагревать или повреждать образец.
-
Применение для двумерных кристаллов
- CBED используется для изучения графена и других двумерных монослойных кристаллов.
- Анализ структуры CB-слоя упрощает восстановление деформаций и расстояний между слоями.