Дифракция электронов сходящимся пучком — Википедия

Дифракция электронов сходящимся пучком История и развитие CBED Метод был представлен в 1939 году Косселем и Мелленштедтом.   Разработка FEG и […]

Дифракция электронов сходящимся пучком

  • История и развитие CBED

    • Метод был представлен в 1939 году Косселем и Мелленштедтом.  
    • Разработка FEG и STEM в 1970-х годах улучшила разрешающую способность.  
    • CBED использовался для определения симметрий и структуры кристаллов с 1985 года.  
  • Приложения и параметры

    • CBED позволяет получить параметры кристаллической решетки, толщину образца, распределение напряжений и дефекты.  
    • Полуугл сходимости луча α управляет диаметром диска CBED.  
    • Расфокусировка Δf позволяет видеть информацию о прямом и обратном пространстве.  
  • Связанные методы

    • Обычная (C) КАМЕРА: используется для получения распределения интенсивности по всей зоне Бриллюэна.  
    • Большой угол наклона (LA)CBED: позволяет получать диски большего диаметра.  
    • 4D-STEM: сканирует образец в 2D-матрице для получения 4D-данных.  
    • Качающийся луч (BR)-CBED: создает виртуальный сходящийся луч для чувствительных материалов.  
    • CB-LEED: анализирует кривые качания при одной энергии для локализованной структурной информации.  
    • Птихография: восстанавливает фазу исходящей электронной волны для атомарного разрешения.  
  • Преимущества и недостатки

    • Меньший диаметр зондирующего пучка позволяет получать информацию из малых областей.  
    • Сфокусированный датчик может вызвать загрязнение и локальные напряжения.  
    • Сходящийся луч может нагревать или повреждать образец.  
  • Применение для двумерных кристаллов

    • CBED используется для изучения графена и других двумерных монослойных кристаллов.  
    • Анализ структуры CB-слоя упрощает восстановление деформаций и расстояний между слоями.  

Полный текст статьи:

Дифракция электронов сходящимся пучком — Википедия

Оставьте комментарий

Прокрутить вверх