Оглавление
Просвечивающая дифракция Кикути
-
Описание метода TKD
- TKD (дифракция Кикути на просвет) используется для анализа микроструктуры тонких образцов в ПЭМ.
- Метод обеспечивает высокое пространственное разрешение до нескольких нанометров.
- TKD чувствителен к локальным изменениям кристаллографической ориентации.
-
Подготовка образцов
- Образцы тонкой фольги готовятся с помощью сфокусированного ионного пучка или ионно-фрезерного станка.
- Подготовка требует определенных навыков и оборудования.
-
Методы TKD
- Осевая TKD используется для анализа образцов с низкой деформацией и высокой кристаллографической симметрией.
- Внеосевая TKD предпочтительна для анализа образцов с высокой деформацией и низкой кристаллографической симметрией.
-
Разрешение и чувствительность
- Разрешение TKD зависит от размера пучка, напряжения, атомной массы материала и толщины образца.
- Внеосевая TKD обеспечивает более высокое разрешение и чувствительность.
-
Применение и ограничения
- TKD используется для анализа нанокристаллических материалов, таких как оксиды, сверхпроводники и металлические сплавы.
- Метод может быть сложным для интерпретации из-за сложной геометрии дифрагированных электронов.
- Подготовка образцов требует определенных навыков и оборудования, что делает метод дорогим и трудоемким.