Прецессионная дифракция электронов
-
Прецессионная дифракция электронов (PED)
- Метод сбора дифракционных картин электронов в ПЭМ
- Вращение наклонного электронного пучка вокруг центральной оси микроскопа
- Интеграция по совокупности условий дифракции
-
Геометрия PED
- Катушки наклона луча отклоняют луч от оптической оси
- Катушки сдвига изображения отклоняют дифрагированные лучи
- Прецессия луча вокруг оптической оси
-
Преимущества PED
- Квазикинематические дифракционные картины
- Минимизация динамических эффектов
- Более широкий диапазон измеряемых отражений
- Практическая надежность
- Очень маленький размер зонда
-
Практические соображения
- Ускоряющие напряжения 100-400 кВ
- Угол наклона φ 0-3°
- Частота прецессии 60 Гц
- Влияние угла прецессии на размер зонда
-
Теоретические соображения
- Поправки для преобразования PED в кинематические параметры
- Поправка Лоренца и двухлучевая коррекция
- Необходимость более точной обработки для улучшения кинематического качества
-
История и развитие прецессионной дифракции электронов
- Первая система разработана Винсентом и Мидгли в 1994 году
- Метод продемонстрировал применимость для уменьшения динамических эффектов
- В 2004 году NanoMEGAS разработала коммерческую систему
-
Применение в кристаллографии
- Определение трехмерного расположения атомов
- Преимущества перед рентгеновской кристаллографией
- Автоматизированная дифракционная томография
-
Преимущества для других методов
- Визуализация в ярком и темном полях
- Электронная томография
- Методы определения состава, такие как EDS и EELS
-
Влияние на изображения и томографию
- Снижение динамической контрастности изображений
- Улучшение интерпретации дифракционного контраста
- Упрощение реконструкции трехмерной структуры
-
Влияние на исследования состава
- Минимизация эффектов каналирования
- Более точные измерения состава
-
Рекомендации и источники
- Ссылки на диссертации и статьи
- Ссылки на компании и их продукты
-
Описание системы
- NanoMEGAS
- Система для прецессионной электронной дифракции
-
Цель исследования
- Разработка и верификация системы
- Получение данных для подтверждения метода
-
Автор и степень
- Автор: C.S.
- Степень: Ph.D.
-
Дополнительная информация
- Автор является владельцем системы