Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения — Википедия

Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения Позволяет визуализировать атомную структуру образцов   Используется для изучения полупроводников, металлов, […]

Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения

  • Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения

    • Позволяет визуализировать атомную структуру образцов  
    • Используется для изучения полупроводников, металлов, наночастиц и углерода  
    • Максимальное разрешение около 0,5 ангстрема  
  • Формирование изображения

    • Основано на фазовом контрасте  
    • Контраст не поддается интуитивной интерпретации из-за аберраций линз  
    • Аберрации влияют на фазу электронной волны  
  • Взаимодействие электронов с образцом

    • Электроны взаимодействуют с образцом, создавая дифракцию Брэгга  
    • Выходная волна электронов проходит через систему формирования изображения  
  • Функция передачи фазового контраста

    • Описывает влияние апертур и аберраций на фазу выходной волны  
    • Включает функции апертуры, огибающей и аберраций  
  • Расфокусировка и её влияние

    • Расфокусировка может повысить точность и интерпретируемость микрофотографий  
    • Функция огибающей определяет предел информации  
  • Оптимальная расфокусировка

    • Выбор оптимальной расфокусировки важен для полного использования возможностей микроскопа  
    • Расфокусировка Шерцера сглаживает функцию передачи контраста  
    • Оптимальная расфокусировка зависит от сферической аберрации и ускоряющего напряжения  
  • Расфокусировка по Габору

    • Используется в электронной голографии для минимизации перекрестных помех между амплитудой и фазой волны изображения  
    • Выражается как функция расфокусировки Шерцера  
  • Легкая расфокусировка

    • Метод реконструкции выходной волны для максимального использования всех лучей  
    • Включает математическое изменение функции передачи контраста для восстановления исходной выходной волны  
  • Расфокусировка Лихте

    • Предложена в 1991 году для увеличения пропускной способности информации  
    • Минимизирует модуль dx(u)/du  
    • Для CM300 с информационным пределом 0,8 Å расфокусировка составляет -272 нм  
  • Реконструкция волны выхода

    • Волна в плоскости изображения возвращается численно к образцу  
    • Для восстановления фазы и амплитуды электронной волны используются голография и метод сквозных фокусных рядов  
  • Методы восстановления фазы

    • Голография использует призму для разделения луча на опорный и проходящий через образец  
    • Метод сквозных фокусных рядов использует зависимость функции передачи контраста от фокуса  
  • Идеальное значение расфокусировки

    • Расфокусировка Лихте составляет несколько сотен нанометров с отрицательным значением  
    • Позволяет повысить точечное разрешение микроскопа до предела информативности  

Полный текст статьи:

Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения — Википедия

Оставьте комментарий

Прокрутить вверх