Рентгеновская дифракция

Дифракция рентгеновских лучей История дифракции рентгеновских лучей Вильгельм Рентген открыл рентгеновские лучи в 1895 году.   Чарльз Гловер Баркла показал, что […]

Дифракция рентгеновских лучей

  • История дифракции рентгеновских лучей

    • Вильгельм Рентген открыл рентгеновские лучи в 1895 году.  
    • Чарльз Гловер Баркла показал, что рентгеновские лучи обладают свойствами электромагнитных волн.  
    • Макс фон Лауэ в 1912 году наблюдал дифракцию рентгеновских лучей на кристаллах.  
    • Уильям Лоуренс Брэгг разработал закон Брэгга в 1912-1913 годах.  
  • Основы дифракции рентгеновских лучей

    • Кристаллы рассеивают рентгеновские лучи через свои электроны.  
    • Упругое рассеяние создает сферические волны, которые могут интерферировать.  
    • Брэгговская модель дифракции связывает отражения с равномерно расположенными слоями в кристалле.  
  • Сфера Эвальда и амплитуды рассеяния

    • Дифракционная картина представляет собой сферический срез взаимного пространства.  
    • Амплитуды рассеяния определяются плотностью электронов внутри кристалла.  
    • Интенсивность рассеяния пропорциональна локальной амплитуде набегающей волны и количеству рассеивателей.  
  • Измерение интенсивности отражения

    • Измеренная интенсивность отражения равна квадрату амплитуды рассеяния.  
    • Кристаллические области должны быть достаточно большими, чтобы рентгеновские лучи рассеивались только один раз.  
  • Источники рентгеновского излучения

    • Вращающийся анод: недорогие и простые в обслуживании, но ограничены длиной волны и интенсивностью нагрева.  
    • Микрофокусная трубка: высокая мощность луча при низкой мощности.  
    • Синхротронное излучение: мощные и яркие, но требуют криокристаллографии для защиты образцов.  
    • Лазер на свободных электронах: самые яркие источники, но разрушают образцы.  
  • Методы рассеяния

    • Дифракция на монокристаллах: дает больше структурной информации, но требует крупных кристаллов.  
    • Порошковая дифракция: используется для определения структуры ДНК.  
    • Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей: используется для изучения быстрых событий.  
    • Метод Лауэ: используется для кратковременного воздействия, но не подходит для полной атомной структуры.  
    • Дифракция электронов: сильное рассеяние, информация об отдельных атомах.  
    • Дифракция нейтронов: полезна для наблюдения легких атомов, но требует интенсивных монохроматических пучков.  

Полный текст статьи:

Рентгеновская дифракция

Оставьте комментарий

Прокрутить вверх