Оглавление
Серийная блочная сканирующая электронная микроскопия
-
Описание метода
- Серийная блочная сканирующая электронная микроскопия (SBEM) позволяет получать трехмерные изображения высокого разрешения из небольших образцов.
- Метод разработан для тканей головного мозга, но применим для любых биологических образцов.
-
Процесс подготовки образцов
- Образцы готовятся методами, аналогичными просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ).
- Образцы фиксируются альдегидом, окрашиваются тяжелыми металлами и помещаются в эпоксидную смолу.
- Поверхность блока образца визуализируется путем регистрации обратно рассеянных электронов.
-
Процесс получения изображений
- Ультрамикротом используется для вырезания тонкого среза с лицевой стороны блока.
- После вырезания среза блок возвращается в фокальную плоскость и создается новое изображение.
- Последовательность формирования изображений, резки профилей и подъема блоков позволяет получать тысячи изображений с идеальным выравниванием.
-
История и коммерциализация
- Метод был изобретен в 2004 году Винфридом Денком в Институте Макса Планка.
- Коммерчески доступен компаниями Gatan Inc., Thermo Fisher Scientific и ConnectomX.
-
Приложения
- Метод используется для изучения взаимосвязей аксонов в головном мозге.
- Применяется в биологии развития, биологии растений, исследованиях рака и нейродегенеративных заболеваний.
- Позволяет генерировать большие наборы данных, что требует разработки алгоритмов автоматической сегментации.
-
Преимущества и недостатки
- Недостаток: ограниченная толщина среза (~25 нм), что ограничивает разрешение в направлении глубины.
- Преимущества: образец остается неподвижным, что улучшает выравнивание стопок изображений, возможность получения больших массивов данных с высоким уровнем детализации, быстрая резка позволяет обрабатывать большую площадь материала и получать множество изображений за короткий промежуток времени.