Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующая зондовая микроскопия Основы сканирующей зондовой микроскопии Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) — это метод исследования поверхности с высоким разрешением.  СЗМ […]

Сканирующая зондовая микроскопия

  • Основы сканирующей зондовой микроскопии

    • Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) — это метод исследования поверхности с высоким разрешением. 
    • СЗМ использует зонды с острыми кончиками для взаимодействия с поверхностью образца. 
    • Зонды могут быть изготовлены из различных материалов и иметь различные формы. 
  • Типы сканирующих зондовых микроскопов

    • СЗМ делятся на контактные и бесконтактные, в зависимости от типа взаимодействия зонда с образцом. 
    • Контактные методы включают атомно-силовую микроскопию (АСМ) и сканирующую туннельную микроскопию (СТМ). 
    • Бесконтактные методы включают сканирующую ближнепольную микроскопию (СЧМ) и сканирующую фототоковую микроскопию (SPCM). 
  • Принцип работы и режимы сканирования

    • В контактных методах зонд взаимодействует с образцом, создавая изображение на основе изменения сопротивления. 
    • В бесконтактных методах зонд взаимодействует с образцом через туннелирование или фототок, создавая изображение на основе изменения электрического поля. 
    • Существуют режимы постоянного взаимодействия и постоянной высоты, которые используются для получения различных типов изображений. 
  • Визуализация и анализ изображений

    • Изображения, полученные с помощью СЗМ, могут быть визуализированы в виде тепловых карт или изображений постоянной высоты. 
    • Анализ изображений включает в себя изучение динамики фототока и других оптических свойств материалов. 
  • Программное обеспечение для визуализации и анализа

    • Для визуализации и анализа изображений требуется специализированное программное обеспечение. 
    • Существуют как бесплатные, так и коммерческие пакеты программного обеспечения для визуализации и анализа изображений. 
  • Преимущества и недостатки сканирующей зондовой микроскопии

    • СЗМ обладает высокой разрешающей способностью и позволяет изучать локальные различия в образце. 
    • Образцы могут быть исследованы без необходимости их частичного разрежения. 
    • Однако, методы сканирования могут замедлять получение изображений и могут возникать неопределенности в метрологии. 

Полный текст статьи:

Сканирующая зондовая микроскопия — Википедия

Оставьте комментарий

Прокрутить вверх