Сверхбыстрая сканирующая электронная микроскопия

Сверхбыстрая дифракция электронов Сверхбыстрая дифракция электронов Метод накачки-зонда, сочетающий оптическую спектроскопию и дифракцию электронов   Дает информацию о динамических изменениях структуры […]

Сверхбыстрая дифракция электронов

  • Сверхбыстрая дифракция электронов

    • Метод накачки-зонда, сочетающий оптическую спектроскопию и дифракцию электронов  
    • Дает информацию о динамических изменениях структуры материалов  
    • Использует фемтосекундные лазерные импульсы для возбуждения образца  
  • Процесс эксперимента

    • Фемтосекундный лазерный импульс возбуждает образец  
    • Через определенный промежуток времени подается фемтосекундный электронный импульс  
    • Электронный импульс дифрагирует на образце, формируя дифракционную картину  
    • Дифракционный сигнал регистрируется камерой устройства с зарядовой связью  
  • История и развитие

    • Первые приборы основаны на рентгеновских полосовых камерах  
    • Временное разрешение уменьшено до аттосекундной шкалы  
    • Электронные импульсы генерируются фотоэмиссией и разгоняются до высоких энергий  
  • Сжатие электронного импульса

    • Используются методы сжатия для преодоления кулоновского отталкивания  
    • Радиочастотное сжатие обеспечивает временное разрешение ниже 50 фемтосекунд  
    • Для исследования быстрой динамики требуются электронные лучи менее 10 фемтосекунд  
  • Методы исследования

    • Одиночный выстрел: изучение необратимых процессов с помощью одиночного электронного сгустка  
    • Стробоскопический: изучение обратимых процессов с помощью множества электронных сгустков  
  • Разрешение

    • Пространственное разрешение определяется физическим размером зонда и взаимным пространственным разрешением  
    • Временное разрешение зависит от длины пучка электронов и временных колебаний между насосом и зондом  

Полный текст статьи:

Сверхбыстрая сканирующая электронная микроскопия

Оставьте комментарий

Прокрутить вверх