Микроскопия в темном поле
-
Микроскопия в темном поле
- Исключает нерассеянный луч из изображения
- Поле вокруг образца темное
- Используется конденсорная линза с темным полем
- Масляная иммерсия и NA меньше 1,0
-
Применение в оптической микроскопии
- Усиление контраста в неокрашенных образцах
- Освещение образца светом, не улавливаемым линзой
- Создание темного фона с яркими объектами
-
Путь света
- Свет поступает в микроскоп
- Диск блокирует свет от источника
- Конденсорная линза фокусирует свет на образце
- Рассеянный свет попадает в линзу объектива
-
Преимущества и недостатки
- Простота настройки, высокое качество изображений
- Низкий уровень освещенности, риск повреждения образца
- Отсутствие ореолов и рельефных артефактов
-
Сравнение методов просвечивания
- Контраст в темном поле определяется рассеянным светом
- Контраст в ярком поле определяется ослаблением света
- Контраст при перекрестно поляризованном свете возникает из-за вращения поляризованного света
- Фазово-контрастное освещение достигается за счет интерференции света
-
Использование в вычислительной технике
- Применение в устройствах наведения компьютерной мыши
- Определение характеристик наноматериалов в клетках
-
Применение в просвечивающем электронном микроскопе
- Изучение кристаллов и их дефектов
- Визуализация отдельных атомов
- Визуализация в слабом луче для высокого разрешения
- Кольцевая съемка в темном поле для Z-контрастной визуализации
- Цифровой анализ в темном поле для отображения фазы Фурье периодичности