Кристаллографический дефект

• Кристаллографический дефект — нарушение правильного расположения атомов или молекул в кристаллических твердых телах. 
• Дефекты могут быть точечными, линейными, плоскими и объемными. 
• Точечные дефекты возникают в одной точке решетки или вокруг нее и могут включать дополнительные или отсутствующие атомы. 
• Линейные дефекты — это дислокации, вокруг которых атомы смещены, и могут быть краевыми или винтовыми. 
• Плоские дефекты включают границы зерен, противофазные границы, дефекты упаковки и ступени на плоскостях монокристаллов. 
• Объемные дефекты включают поры, трещины и включения. 
• Математические методы классификации дефектов включают теорию топологических гомотопий. 
• Методы компьютерного моделирования, такие как теория функционала плотности, молекулярная динамика и Монте-Карло, используются для изучения свойств дефектов.