Кристаллографический дефект
- Кристаллографический дефект – нарушение правильного расположения атомов или молекул в кристаллических твердых телах.
- Дефекты могут быть точечными, линейными, плоскими и объемными.
- Точечные дефекты возникают в одной точке решетки или вокруг нее и могут включать дополнительные или отсутствующие атомы.
- Линейные дефекты – это дислокации, вокруг которых атомы смещены, и могут быть краевыми или винтовыми.
- Плоские дефекты включают границы зерен, противофазные границы, дефекты упаковки и ступени на плоскостях монокристаллов.
- Объемные дефекты включают поры, трещины и включения.
- Математические методы классификации дефектов включают теорию топологических гомотопий.
- Методы компьютерного моделирования, такие как теория функционала плотности, молекулярная динамика и Монте-Карло, используются для изучения свойств дефектов.
Полный текст статьи: